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EPK涂層測厚儀的測量原理和優(yōu)點
更新時間：2019-04-19 點擊次數(shù)：2649次
EPK涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
EPK涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
國內目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測厚儀的優(yōu)點：
零位穩(wěn)定：
所有EPK涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：
多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，激光測距儀的原理要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
EPK涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
國內目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測厚儀的優(yōu)點：
零位穩(wěn)定：
所有EPK涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：
多數(shù)測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，激光測距儀的原理要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
